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TH530-10 連接測試盒?電流到200A
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TH530-01 可編程電感負載箱 -
TH530-25100A 半導體器件雪崩能量測試儀■ 單通道和雙通道 N/P或組合器件測試 (MOSFET、IGBT以及二極管）
■ 可測試高達2500V雪崩電壓、200A峰值電流等級設備
■ 支持單脈沖雪崩測試（EAS)、重復雪崩能量測試(EAR）、 重復脈沖至失效測試(RPF)
■ 高速校準DAC可提升測試精度
■ 用戶可調節的電源電壓(10V至150V)穩定可靠
■ 漏極、源極接觸檢查電路可檢測20Ω以下的接觸電阻，提 供報錯提示(LED)
■ 可設柵極驅動電壓(最大電壓差:30V，最大電壓值:28V)適 應不同被測件所需
■ 可在雪崩前、雪崩后進行可調值的泄漏測試、以確定被測 件當前狀態
■ 高速固態開關、帶故障檢測功能
■ 高精度的電流和電壓波形捕捉以及雪崩持續時間捕捉
■ 7寸24位色TF LCD電容式觸摸屏，中英文可選操作界面， 用于單機操作、輸入測試規格以及提供測試數據顯示。
■ 提供指令用于用戶將屏幕信息存儲于U盤
■ 儀器有開機自檢和在線自檢功能、為用戶排查儀器內部故 障問題
■ 配備簡單自動校準程序，用戶可現場進行校準
■ 配備多種接口:用于遠程測試控制的GPIB接口、前后面板各配備一個的高速串行接口、支持高速傳輸數據的LAN 口。 LAN口不僅可用于遠程測試控制,在用戶需要觀測即時 測試波形時，可使用 LAN口搭配上位機程序查看每一一次 的波形數據
■ 可與TH530-01 可編程電感負載箱(0.01 至159.9mH)或外部電感器配合使用
■ 可外接示波器觸發器輸出，同步可視化雪崩測試過程，用 于準確測量雪崩時間
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TH530-25100B 半導體器件雪崩能量測試儀■ 單通道和雙通道 N/P或組合器件測試 (MOSFET、IGBT以及二極管）
■ 可測試高達2500V雪崩電壓、200A峰值電流等級設備
■ 支持單脈沖雪崩測試（EAS)、重復雪崩能量測試(EAR）、 重復脈沖至失效測試(RPF)
■ 高速校準DAC可提升測試精度
■ 用戶可調節的電源電壓(10V至150V)穩定可靠
■ 漏極、源極接觸檢查電路可檢測20Ω以下的接觸電阻，提 供報錯提示(LED)
■ 可設柵極驅動電壓(最大電壓差:30V，最大電壓值:28V)適 應不同被測件所需
■ 可在雪崩前、雪崩后進行可調值的泄漏測試、以確定被測 件當前狀態
■ 高速固態開關、帶故障檢測功能
■ 高精度的電流和電壓波形捕捉以及雪崩持續時間捕捉
■ 7寸24位色TF LCD電容式觸摸屏，中英文可選操作界面， 用于單機操作、輸入測試規格以及提供測試數據顯示。
■ 提供指令用于用戶將屏幕信息存儲于U盤
■ 儀器有開機自檢和在線自檢功能、為用戶排查儀器內部故 障問題
■ 配備簡單自動校準程序，用戶可現場進行校準
■ 配備多種接口:用于遠程測試控制的GPIB接口、前后面板各配備一個的高速串行接口、支持高速傳輸數據的LAN 口。 LAN口不僅可用于遠程測試控制,在用戶需要觀測即時 測試波形時，可使用 LAN口搭配上位機程序查看每一一次 的波形數據
■ 可與TH530-01 可編程電感負載箱(0.01 至159.9mH)或外部電感器配合使用
■ 可外接示波器觸發器輸出，同步可視化雪崩測試過程，用 于準確測量雪崩時間
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TH530-25200A 半導體器件雪崩能量測試儀■ 單通道和雙通道 N/P或組合器件測試 (MOSFET、IGBT以及二極管）
■ 可測試高達2500V雪崩電壓、200A峰值電流等級設備
■ 支持單脈沖雪崩測試（EAS)、重復雪崩能量測試(EAR）、 重復脈沖至失效測試(RPF)
■ 高速校準DAC可提升測試精度
■ 用戶可調節的電源電壓(10V至150V)穩定可靠
■ 漏極、源極接觸檢查電路可檢測20Ω以下的接觸電阻，提 供報錯提示(LED)
■ 可設柵極驅動電壓(最大電壓差:30V，最大電壓值:28V)適 應不同被測件所需
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■ 高精度的電流和電壓波形捕捉以及雪崩持續時間捕捉
■ 7寸24位色TF LCD電容式觸摸屏，中英文可選操作界面， 用于單機操作、輸入測試規格以及提供測試數據顯示。
■ 提供指令用于用戶將屏幕信息存儲于U盤
■ 儀器有開機自檢和在線自檢功能、為用戶排查儀器內部故 障問題
■ 配備簡單自動校準程序，用戶可現場進行校準
■ 配備多種接口:用于遠程測試控制的GPIB接口、前后面板各配備一個的高速串行接口、支持高速傳輸數據的LAN 口。 LAN口不僅可用于遠程測試控制,在用戶需要觀測即時 測試波形時，可使用 LAN口搭配上位機程序查看每一一次 的波形數據
■ 可與TH530-01 可編程電感負載箱(0.01 至159.9mH)或外部電感器配合使用
■ 可外接示波器觸發器輸出，同步可視化雪崩測試過程，用 于準確測量雪崩時間
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TH530-25200B 半導體器件雪崩能量測試儀■ 單通道和雙通道 N/P或組合器件測試 (MOSFET、IGBT以及二極管）
■ 可測試高達2500V雪崩電壓、200A峰值電流等級設備
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■ 漏極、源極接觸檢查電路可檢測20Ω以下的接觸電阻，提 供報錯提示(LED)
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■ 高精度的電流和電壓波形捕捉以及雪崩持續時間捕捉
■ 7寸24位色TF LCD電容式觸摸屏，中英文可選操作界面， 用于單機操作、輸入測試規格以及提供測試數據顯示。
■ 提供指令用于用戶將屏幕信息存儲于U盤
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■ 配備簡單自動校準程序，用戶可現場進行校準
■ 配備多種接口:用于遠程測試控制的GPIB接口、前后面板各配備一個的高速串行接口、支持高速傳輸數據的LAN 口。 LAN口不僅可用于遠程測試控制,在用戶需要觀測即時 測試波形時，可使用 LAN口搭配上位機程序查看每一一次 的波形數據
■ 可與TH530-01 可編程電感負載箱(0.01 至159.9mH)或外部電感器配合使用
■ 可外接示波器觸發器輸出，同步可視化雪崩測試過程，用 于準確測量雪崩時間
